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IDT70V9389/289L
High-Speed 3.3V 64K x18/x16 Dual-Port Synchronous Pipelined Static RAM
Industrial & Commercial Temperature Ranges
Timing Waveform of Flow-Through Read-to-Write-to-Read ( OE = V IL ) (3)
t CYC1
CLK
CE 0
t CH1
t CL1
CE 1
t SC
t SB
t HC
t HB
UB , LB
t SW t HW
R/ W
t SW t HW
(4)
ADDRESS
An
An +1
An + 2
An + 2
An + 3
An + 4
t SA
t HA
t SD t HD
DATA IN
Dn + 2
(2)
t CD1
t CD1
t CD1
t CD1
t DC
DATA OUT
Qn
READ
t DC
Qn + 1
t CKHZ
(5)
NOP
(1)
WRITE
t CKLZ
Qn + 3
(1)
READ
4856 drw 12
Timing Waveform of Flow-Through Read-to-Write-to-Read ( OE Controlled) (3)
t CYC1
CLK
CE 0
t CH1
t CL1
CE 1
t SC
t SB
t HC
t HB
UB , LB
t SW t HW
R/ W
t SW t HW
ADDRESS
(4)
An
An +1
An + 2
An + 3
An + 4
An + 5
t SA
t HA
t SD t HD
DATA IN
(2)
t CD1
t DC
Dn + 2
Dn + 3
t OE
t CD1
t CD1
DATA OUT
Qn
(1)
Qn + 4
t OHZ
(1)
t CKLZ
t DC
OE
READ
WRITE
READ
4856 drw 13
NOTES:
1. Transition is measured 0mV from Low or High-impedance voltage with the Output Test Load (Figure 2).
2. Output state (High, Low, or High-impedance) is determined by the previous cycle control signals.
3. CE 0 , UB , LB , and ADS = V IL ; CE 1 and CNTRST = V IH . "NOP" is "No Operation".
4. Addresses do not have to be accessed sequentially since ADS = V IL constantly loads the address on the rising edge of the CLK; numbers are for
reference use only.
5. "NOP" is "No Operation." Data in memory at the selected address may be corrupted and should be re-written to guarantee data integrity.
14
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